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X-Prep®Vision™-基材测量仪
Vision™是一种自动计量工具,配合X-Prep®精密开封机一起使用,可以测量硅和半透明基板。对于需yao均匀减薄到特定目标,且公差为+/- 3 µm或更高的应用场合来说是必要的。
X-Prep®Vision™是一种计量工具,可以测量硅和半透明基板。对于需yao均匀减薄到特定目标且公差为+/- 3 µm或更高的应用场合来说是必要的。
X-Prep®夹具适配器也固定在 X-Prep®Vision™的电动工作台上 ,确保在系统之间传输时,测量/工具控制坐标保持对齐。
每个系统都包含具有130多种材料的库(例如, GaAs,InGaAs,SiC,蓝宝石/ Al 2 O 3,InP,SiGe,GaN,光刻胶)。
测量与观察-工作原理
红外光聚焦到样品上,并基于材料的折射率创建信号。返回信号由软件分析以产生厚度值。
厚度低于10 µm
对于需yao减薄至小于10 µm的应用,只有添加可见光光谱仪附件,才能进行精准测量。
特征
多点扫描或单点厚度测量 | 10微米至全厚度(1 mm)的测量范围(使用#15-51000光谱仪进行配置时,厚度为15 nm至1 mm) | |
电动自动X / Y / Z(自动对焦),采集时间不到1秒 | 自动边缘和角落检测可将测量网格与X-Prep®对齐-包括theta校正 | |
X / Y输入的边缘排除 | 装有X-Prep®夹具适配器的载物台 | |
“协调开车”软件导航 | 查看2D绘图/地图或3D图形 | |
随附Allied专有的X-Correct™软件 | 如果不购买可见光谱仪(#15-51000),则必须单独购买CCD相机(#15-50020) | |
粗糙度-15微米抛光 | 100 mm x 100 mm工作台行程 | |
可通过.NET扩展软件自动化 | 使用标准Windows方法导出数据 | |
一(1)年保修 | 尺寸:14英寸(宽)x 17英寸(深)x 19英寸(高)(355 x 431 x 483毫米) |
产品型号
产品编号 | 规格描述 |
15-50100 | X-PREP®VISION™100基板测量仪器 100-240V AC 100 mm x 100 mm X / Y 位移台 |
产品附件
产品编号 | 规格描述 |
15-51000 | 可见光谱仪和照相机 |
15-50020 | CCD相机 |